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Ingénieur-analyste en caractérisation physico-chimique par XPS et ToF-SIMS H/F

CEA | Grenoble, France | Posted June 22, 2026

Position Overview

Description de l'offre


Au sein du laboratoire de caractérisation des surfaces et interfaces, vous intégrerez une équipe projet dédiée à la caractérisation physico-chimique de matériaux et dispositifs issus des filières technologiques du LETI, via des techniques avancées telles que la spectroscopie de photoélectrons (XPS) ou la spectrométrie de masse d’ions secondaires (ToF-SIMS).

Après un parcours de formation sur les équipements et logiciels associés, vous aurez pour missions :

  • Réalisation des analyses par XPS et/ou ToF-SIMS sur des matériaux et dispositifs de la microélectronique. Vous jouerez un rôle d'interface clé avec les technologues du LETI pour identifier le(s) besoin(s) en caractérisation de surface et définirez la/les méthode(s) d'analyse la/les plus adaptée(s).
  • Contribution aux développements de nouveaux protocoles de mesures ou développements instrumentaux, respectivement en lien avec l’équipe ou en interface av...
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